Agilent 7500 ICP-MS

Agilent 7500 ICP-MS电感耦合等离子体质谱－ICP-MS，是一种新型的无机元素和同位素分析技术，可快速同时检测周期表上几乎所有元素。ICP-MS技术在分析能力上，超过传统的无机分析技术如电感耦合等离子体光谱技术(ICPAES)、石墨炉原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技术(CVAAS)的总和，被称为当代分析技术最激动人心的发展。最近，与分离技术联用进行环境毒理、生命科学等领域的元素价态、形态分析成为ICP-MS技术应用的一个焦点。

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描述

产品介绍

Agilent 7500 ICP-MS电感耦合等离子体质谱-ICP-MS，是一种新型的无机元素和同位素分析技术，可快速同时检测周期表上几乎所有元素。ICP-MS技术在分析能力上，超过传统的无机分析技术如电感耦合等离子体光谱技术(ICPAES)、石墨炉原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技术(CVAAS)的总和，被称为当代分析技术最激动人心的发展。

最近，与分离技术联用进行环境毒理、生命科学等领域的元素价态、形态分析成为ICP-MS技术应用的一个焦点。

产品配置

1、带内置自动进样器的7500ce ICP-MS主机;

2、真空泵;

3、循环制冷机;

4、计算机和软件。

产品参数

可快速同时检测周期表上几乎所有元素
最低的检出限(低至ppq级)
分析效益/成本比最佳
最宽的线性动态范围—可直接检测从ppq到数百ppm浓度
谱线最简单、干扰最小，准确度和精密度好
需要样品量很低(ul至ml)，分析速度很快(1～3分钟/样品)
检测模式灵活多样
半导体工业常用材料中超痕量污染物分析：
固体：Si;GaAa单晶切片;石英、碳化硅等炉材料;高纯金属电极等
液体：超纯水;HF;HNO3;HCI;H2SO4;H2O2;氨水等
气体：SiH4;TE0S;NF3;N2等
Agilent ICP-MS可直接分析有机样品：
Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等离子体技术已被用于测定一系列有机样品的ppt级痕量污染元素。
对其中一些样品，其他方法无法得到满意的结果，高功率屏蔽矩冷等离子体技术是唯一的分析方法。
强碱性清洗剂——四甲基氢氧化氨(TMAH)等
常用有机溶剂——甲苯、二甲苯、IPA等
高基体样品——光刻胶、液晶、BPSG、PSG等挥发性极强的清洗剂——丙酮、甲醇等。